本公司的柱后法是一种自动分析系统，通过使用阳离子交换柱的梯度洗脱法分离各组分，然后在检测时利用邻苯二甲醛（OPA），采用荧光衍生化法。OPA具有优异的灵敏度、线性，可以良好的灵敏度检测脯氨酸等亚氨基酸。由于本方法是在分离后进行反应，因此不易受到样品中所含夹杂物的影响，可以高灵敏度检测氨基酸，且选择性较高。分离方法包括水解氨基酸分析用的Na型和游离氨基酸分析用的Li型等2种分析模式。使用最适合各自分离模式的时间程序，同时分析氨基酸，而使用专用的流动相试剂盒、及反应液试剂盒，可省去制备步骤，高准确度地进行氨基酸分析。本文介绍了使用新发售的“Nexera 柱后氨基酸分析系统”

本文介绍了一个运用SMX-1000Plus微焦点X射线检查装置在PCB组装过程中BGA焊接缺陷，针对PCB组装中的BGA焊接能够清晰观察并发现各种缺陷。

XPS（X 射线光电子能谱法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了对材料表面上约10 nm 处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析元素的化学结合状态。该方法因为用软X 射线照射样品，观测在物质内部产生的光电子，因此，被称为非破坏性分析。然而，一些物质可能因为被X 射线照射而受到损伤，表面化学状态会发生改变，进一步导致无法从受损的材料表面得到反映其本来状态的正确数据。因此，了解测试过程中样品受到的损伤非常重要。在这里，我们将为您介绍改变X 射线的照射功率，对同一试样进行测定，评估对试样所造成影响的事例。