X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

本文使用岛津UV-3600i Plus和可变角测定装置测试光学镀膜玻璃在不同入射角度下的透射率和反射率，仪器操作简单，测试数据可靠，可为评价镀膜玻璃光学性能提供重要参考。

近期我国食品安全问题突出，政府在加强监管力度。日前卫生部发布的《食品中可能违法添加的非食用物质和易滥用的食品添加剂品种名单（第一批）》中明确规定乳及乳制品中硫氰酸钠属于违法添加物质。硫氰酸钠(NaSCN)是白色斜方晶系结晶或粉末，毒害品，易溶于水、乙醇和丙酮。据中国检科院综合检测中心报道，硫氰酸钠的毒性主要由其在体内释放的氰根离子而引起。氰根离子在体内能很快与细胞色素氧化酶中的三价铁离子结合，抑制该酶活性，使组织不能利用氧，导致急性中毒。原料乳或奶粉中掺入硫氰酸钠后可有效的抑菌、保鲜，是不法奶户的掺假物质之一，但是少量的食入就会对人体造成极大伤害。本文利用岛津抑制型离子色谱仪，建立了乳制品中硫