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ICP-OES法测定碳化硅陶瓷中的氧化物含量
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ICP-OES法测定碳化硅陶瓷中的氧化物含量
2022.04.01
类型: 应用报告
浏览:176
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参考GB/T 6901-2017《硅质耐火材料化学分析方法》及GB/T 37254-2018《高纯碳化硅 微量元素的测定》,使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)分析了碳化硅中多种元素氧化物的含量。分析结果显示,该方法各元素检出限为0.005~27.125 mg/kg;相对标准偏差(RSD)0.13%~2.61%,重复性良好,样品加标回收率为90.6%~106%,该方法适用于碳化硅中的氧化物含量测定。
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