用电感耦合等离子发射光谱法（ICP-AES）同时测定了高纯铜中的多种杂质元素P, Mn, Fe, Ni, Zn, As, Se, Ag, Cd, Sn, Sb。优化仪器的工作条件，以基体匹配法配制工作曲线标样，有效地消除了基体干扰。方法简便、可满足工业分析要求。检出限为0.000004-0.0001%，回收率在85.9-105%范围内。

紫外可见分光光度计在很多领域的物质定量和定性分析方面得到广泛的应用，其中，在食品、环境领域希望削减测定后的废液量，要求更加微量的测定。此外，在医药、化学、生命科学领域测定时有时无法采集充分的样品量，也要求更加微量的测定。按照以往比色池的形状，为了维持光路长并减小容量而改变比色池的宽度和高度方向，由此能进行几十μL 的测定。本篇报告中， 通过UV-1900 展示了使用TrayCellTM（Hellma Analytics 公司制造）和Nano Stick（SINCO 公司制造），两种微量比色池进行了食用色素和氨基酸类的微量测定，这两种比色池对样品量的需求只有几μL。

本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6000微焦点X射线透视及CT 对智能手机的实例观察。通过透视可以观察整个智能手机的全景图，再针对相机、USB 端口和BGA 放大透视观察。再对BGA 进行CT 扫描，可以观察BGA 的内部气泡、PCB 基板与BGA焊接面的结构，运用设备自带测量功能对BGA CT 截面进行气泡测量并判断气泡OK/NG、真圆度和直径。最后对BGA 进行缺陷分析并展示半透明效果图。