本文使用岛津电感耦合等离子体质谱仪ICPMS-2050LF建立了测定碳酸镧中29种元素杂质含量的方法。实验结果表明，该方法标准曲线线性良好，检出限低，准确度高，重复性好，适用于碳酸镧中元素杂质含量的测定。

X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

本文利用岛津GCMS-QP2010 SE建立了塑料玩具中可迁移有机锡化合物的分析方法。样品经HCl水溶液提取，四乙基硼酸钠衍生化，正己烷萃取后，采用GCMS内标法进行定量检测。结果表明，在0.1~7.5 μg/mL浓度范围内6种有机锡化合物线性良好，相关系数均在0.995以上。以0.3μg/mL标准溶液进行重复性实验，各组分峰面积RSD均小于5%（n=6）。样品的回收率在83.3~120.7%之间，能满足日常检测的要求。