二氧化硅被广泛应用于半导体等电子部件的密封材料以及涂料填料等各种领域。如果在二氧化硅中包含异常的粗颗粒（异物或凝聚物），电子零部件会发生成形不良、绝缘不良、电气性能不良，而涂料会发生涂膜强度下降、涂敷不均等现象。评价二氧化硅的尺寸主要使用激光衍射式粒度分布测定装置（以下简称LD）和扫描电子显微镜（以下简称SEM）等。但是上述设备在测试过程中也存在一些问题，例如LD检测微量粗颗粒灵敏度较低，SEM的观察视野狭窄，导致检测时间过长，无法确保足够的测量数量，而且无法获得浓度信息等等。与之相比，动态图像分析方法可以在短时间内定量获得大量的颗粒图像，因此，适用于快速进行微量粗颗粒检测和浓度评价。动态颗粒

建立了岛津GC×GC-qMS定性筛查环境水中有机污染物的分析方法，并对某环境水样及其加标进行了分析，得到了其GC×GC二维轮廓图。分析结果表明，GC×GC-qMS具有高峰容量、高灵敏度、高分辨率等特点，能够将环境体系中的痕量有机污染物与基质分离。

本文建立了一种尺寸排阻色谱法测定右旋糖酐铁分子量及分子量分布的方法。样品经尺寸排阻色谱柱分离，GPC再解析软件分析，窄分布标样三次回归曲线校正，依据保留时间对分子量进行计算。结果显示，系统适应性满足法规要求，在峰位分子量Mp2700~64650范围内，校准曲线相关系数R>0.999，实测样品重均分子量Mw=6727，数均分子量Mn=4839。方法简单、易操作，可供相关行业参考。