参考国家标准《GB 5686．1/2/3－88 锰硅合金化学分析方法测定锰量/硅量/磷量》，《GBT 4333.5-2016 硅铁 硅、锰、铝、钙、铬和铁含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)》，以及《SN/T 2749-2010 稀土硅铁合金中Mn Si Al Ca和Ti的测定 波长色散X射线荧光光谱法》，利用岛津MXF-N3波长色散X射线荧光光谱仪，使用混合熔剂与硅锰合金样品高温熔融，建立硅锰合金（锰铁合金）样品中Si Mn P Fe等主元素的玻璃熔片法的分析方法，并评价了该方法的短期精度、重复性和再现性；用此方法分析硅锰合金（锰铁合金）样品，分析结果与标准值在允许误差范围

使用TOC-V分析仪与固体燃烧装置SSM-5000A，可以顺利完成FDA与GMP要求的清洗有效性认证。操作简单、快速。

Ag Lα源作为XPS分析中的一个高能靶材选项越来越受到重视。Ag Lα源的能量为2984.3 eV，远高于传统的Al Kα源（1486.6 eV），使得Ag Lα XPS测试结果能够提供材料更深层次的信息，此外Ag Lα源经常性被用于消除不同元素俄歇峰与特征轨道谱峰之间的干扰分析。除以上两个特点，Ag靶由于其高能量，可激发出更内层的轨道电子，对于Al靶测试时的不同元素主峰与非特征峰等干扰时，亦可提供其他轨道分析的选择。