岛津AIMsight红外显微镜结合颗粒分析软件与高速Mapping功能，为微塑料提供了一套高效、准确、可视化的全流程解决方案：根据红外（拉曼）显微镜获得的化学图像（红外/拉曼测量结果）批量测量颗粒的尺寸、数量（个数及百分比）、面积、体积、粒径和粒径分布等定量结果并提供可视化图表直观呈现统计结果。该系统不仅满足当前国内外微塑料检测标准对成分与数量的双重要求，还可拓展至众多领域，例如环境监管领域，饮用水、空气、沉积物中微塑料例行监测；食品与药品安全领域，包装材料的微塑料迁移量评估；工业质控领域，聚合物产品中异物颗粒的来源追溯；以及科研领域种对微塑料老化、降解机制研究中的成分变化追踪。

使用岛津MXF-2400 波长色散型X射线荧光光谱法对硅质耐火材料进行了定量分析，使用混合熔剂与水泥用硅质原料(粘土、砂岩)高温熔融成玻璃片样品，建立一种方便快捷的水泥用硅质原料(粘土、砂岩)常规元素的分析方法，并评价了该方法的短期精度和准确度；用此方法分析水泥用硅质原料样品，简便快速，准确度高、精度高，能满足水泥用硅质原料(粘土、砂岩)样品日常检测的需要。

XPS（X 射线光电子能谱法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了对材料表面上约10 nm 处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析元素的化学结合状态。该方法因为用软X 射线照射样品，观测在物质内部产生的光电子，因此，被称为非破坏性分析。然而，一些物质可能因为被X 射线照射而受到损伤，表面化学状态会发生改变，进一步导致无法从受损的材料表面得到反映其本来状态的正确数据。因此，了解测试过程中样品受到的损伤非常重要。在这里，我们将为您介绍改变X 射线的照射功率，对同一试样进行测定，评估对试样所造成影响的事例。