X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

服用运动兴奋剂是违反公正比赛的行为，并且，危害选手的健康，在社会上造成恶劣影响。因此，根据WADA(World Anti-Doping Agency)的规定，进行运动兴奋剂检査。

利用GC分析一氧化碳（CO）和二氧化碳（CO2）时，使用填充柱和TCD的方法被广泛采用。但是，在比TCD更高灵敏度地分析CO和CO2时，已有使用甲烷化反应器使CO和CO2甲烷化并用FID作为检测器的方法。本文中介绍在Nexis GC-2030上连接甲烷化反应器，通过FID分析含有CO、CO2等的标准气体的案例。