XPS（X 射线光电子能谱法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了对材料表面上约10 nm 处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析元素的化学结合状态。该方法因为用软X 射线照射样品，观测在物质内部产生的光电子，因此，被称为非破坏性分析。然而，一些物质可能因为被X 射线照射而受到损伤，表面化学状态会发生改变，进一步导致无法从受损的材料表面得到反映其本来状态的正确数据。因此，了解测试过程中样品受到的损伤非常重要。在这里，我们将为您介绍改变X 射线的照射功率，对同一试样进行测定，评估对试样所造成影响的事例。

参考全国土壤污染状况详查农产品样品分测试方法技术规定，使用岛津ICPMS-2030型电感耦合等离子体质谱仪测定标准品大米GSB-22中多元素的含量。实验结果表明，该方法操作简单，定量准确，线性范围宽，测定值与标准值吻合，加标回收率在94.0~101%之间，可满足大米中多种金属元素高低含量的同时分析。

本文利用岛津ICPMS-2030电感耦合等离子体质谱仪，采用微波消解法对锰结核样品进行前处理，测定了锰结核样品中32种元素含量。实验结果表明，该方法操作简便、快速，线性相关系数良好，精密度高，测试结果准确，使用锰结核标准物质GBW07296进行验证，测定值与标准值基本吻合，该方法可适用于锰结核样品中多元素含量的测定。