岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。EPMA可用于研究此类成岩矿物的确切化学组成和元素的二维分布。在这里，使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对云仙火山熔岩中的斜长石进行了元素面分析。结果显示，可以在斜长石边缘发现微细的结构。这些切片样品由东京大学研究院理学研究科-地球与行星科学系的理学院技术部技术长吉田英人先生提供。

建立了测定复合多层材料样品主要元素含量的PDA直读光谱分析方法。通过对比试验，确定了氩气冲洗时间及氩气流量、激发光源选择、激发能量电压等各项分析条件，试验结果表明：该方法的准确度、短期精密度都能够达到预期效果，完全能够满足生产分析要求。

本文介绍了一个运用SMX-1000Plus微焦点X射线检查装置在PCB组装领域中的运用，针对PCB组装中的焊接能够清晰观察并发现缺陷，并使用测量功能对插件爬锡率、BGA气泡率、焊接面积比及绑定线曲率进行测量。