本文将炉渣标准样品用玻璃熔片法制样，使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度，建立SiO2、TFe、MgO、MnO、Al2O3、CaO、TiO2、P2O5、S、Na2O等主次组分的校准曲线，实现对炉渣中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析炉渣样品，分析结果与化学值在允许误差范围内，能满足此类样品分析的需要。

本文使用岛津傅立叶变换红外光谱仪与高性能红外显微镜AIM-9000对焊锡电路板上助焊剂（Flux）残留进行分析，以规范生产工艺和提高产品质量。结果显示傅立叶变换红外光谱仪与红外显微镜联用，光学显微镜观察微小样品，实现了红外的微区分析和微量分析，对于微小样品可以进行非常方便地进行定性、定量分析。

在食品原料中所含矿物成分及盐分的元素分析中，一般采用原子吸收分光光度法（以下简称AA）。在使用AA分析固形物和粉末时，需要加酸进行消解等化学预处理。与之相比，荧光X射线分析法只通过简单的预处理就可以完成固体､粉体､液体的直接测定，因而正在研究将其作为AA的替代方法使用。AA常用于对食品原料粉末中的钠含量的过程控制。我们使用能量色散型X射线荧光分析仪EDX-8100对该项分析进行了比较研究。使用压片法压片法和粉末直接分析法（以下简称粉末法）这两种前处理方法，其分析结果与AA结果之间均得到了良好的相关性。