高熵合金薄膜凭借其独特的成分设计和优异的力学性能，在摩擦学领域展现出巨大潜力。然而，传统表征手段难以精确解析其微观摩擦机制，制约了材料性能的进一步优化。扫描探针显微镜（SPM）作为一种强大的纳米表征工具，能够在微观尺度上实时、原位地研究材料表面的摩擦学行为，为揭示高熵金属薄膜的摩擦机制提供了新的视角。本文将利用SPM技术，研究Cu-Ni-Al薄膜在微观尺度上的微观摩擦行为，阐明其摩擦机制，为设计高性能高熵合金薄膜提供理论指导。

导电高分子（CPs）是具有导电性的一类聚合材料，在很多领域发挥其独特作用。CPs的表征方法有很多，其中红外和拉曼光谱作为分子光谱，是了解材料成分、结构和官能团信息的重要手段。本文利用岛津红外拉曼一体显微镜AIRsight，建立分析电沉积法制备的CPs薄膜成分和分布的方法，为材料性质研究提供有利证据。

轫致辐射所产生的X射线信号由于原理本身而并不能在检测器端屏蔽，其必然会叠加到元素测试所使用的特征X射线信号的检测，对结果分析产生干扰，甚至会使结果产生严重的假象数据，误导分析人员。本文探讨了超轻元素和微量元素测试中轫致辐射所产生的信号对测试结果的影响，以及在测试之前如何发现和规避这方面的干扰，结合岛津电子探针软件中的功能并综合运用多种分析方法，给出了背景信号分析的应对解决方案。