黄铁矿表面通常具有厚达几百纳米的贫金层，其金含量远低于XPS的常规检出限（~0.1 at%）且厚度远大于XPS的检测深度（~10 nm），该贫金层的存在导致无法直接采用XPS技术获得其内部富金环带的有效信息。本文以贵州贞丰水银洞金矿样品为例，采用非氧化性酸简单有效地去除了屏蔽XPS信号的贫金层（位于含砷黄铁矿最外层）以及干扰XPS金信号的含镁矿物（如白云石），首次采用XPS获得了“隐形金”的一系列重要定量数据。

本文采用超声提取方式，结合岛津最新型号的气质联用仪GCMS-QP2050，建立了光学TAC薄膜样品中9种增塑剂含量的检测方法。在0.2~5 mg/L浓度范围内，各化合物线性良好；混合标准溶液连续6次进样，峰面积RSD值均小于5%，重复性良好；样品加标测试，回收率达到80%~120%。方法满足实验室对薄膜样品中增塑剂含量测定的要求。本文数据处理部分还采用了岛津PeakintelligenceTM智能积分软件，提高积分准确性。

陶瓷主要是由粘性较高的高岭土、黏土、石英和长石等混合高温烧成而成，通过调整3者比例，可得到不同的抗电性能、耐热性能和机械性能的陶瓷。陶瓷成分组成复杂，有时加入如Sr Zr Zn等稀有元素来改变其性能，以达到SZP陶瓷的特殊用途；传统化学分析方法需要复杂的样品前处理，操作比较麻烦，性质接近的特殊元素的相互干扰无法掩蔽，而利用XRF荧光玻璃熔片法分析，样品处理简单方便，既可以消除矿物效应、粒度效应对结果的影响，又可以通过修正排除元素之间的干扰，提高了分析精度和准确度。本文使用岛津XRF-1800 波长色散X射线荧光光谱仪，建立了特殊陶瓷的分析方法，同时验证了方法的准确度和精密度。