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类金刚石(DLC)膜及其表面缺陷的岛津电子探针分析
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类金刚石(DLC)膜及其表面缺陷的岛津电子探针分析
2024.06.18
类型: 应用报告
浏览:375
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使用岛津电子探针显微分析仪EPMA-1720对某类DLC(diamond-like carbon,类金刚石)膜的表面缺陷进行了观察、元素测试及元素面分布特征分析。确认了缺陷中元素的种类和含量、元素在缺陷位置的分布特点,讨论了表面上尺寸大小不等的微观点状缺陷可能会带来的工程材料失效问题。
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