中国
分析检测仪器
关于岛津
联系我们
全球岛津
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
产品询价
中国
分析检测仪器
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
首页
/
行业应用
/
公安司法
/
EPMA分析电子元器件用电解铜箔表面微缺陷
返回列表
EPMA分析电子元器件用电解铜箔表面微缺陷
2022.09.13
类型: 应用报告
浏览:344
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
在5G电子和新能源领域,铜箔是重要的基础材料之一。本文使用岛津电子探针EPMA分析了电子元器件用电解铜箔表面微小缺陷,测试到腐蚀性元素S、氧化腐蚀产物O及微量元素Al,微观形貌显示有点腐蚀特征。结果显示,岛津电子探针在微量元素解析和超轻元素测试的灵敏度方面有着独特的优势。
预览文章
下载文章
相关推荐
FTIR光谱法快速测定紫外光固化绿油涂层的反应率
使用傅里叶变换衰减全反射红外光谱(ATR-FTIR)分析技术,分析印刷品油墨在紫外光固化中的反应率。通过光固化前后谱图对比,出峰数目,位置一致,重现性良好,光固化前的样品在610 cm-1,910 cm-1,1406 cm-1的相对标准偏差RSD(n=5)分别为3.36%,2.07%,1.70%;光固化之后在以上波数的RSD(n=5)分别为4.39%,1.34%,1.16%。该方法用于油墨制品紫外光固化的反应率测定,操作简捷,快速,准确,结果令人满意。
查看详情 >>
多道同时型X射线荧光MXF-N3 Plus玻璃熔片法快速测试硅砂中主次成分
硅砂样品和合适的熔剂按一定比例混匀,加入脱模剂置于铂黄坩埚中,经高温熔融制成玻璃熔片,建立了使用多道同时型X射线荧光光谱仪(岛津公司MXF-N3 Plus)快速测试硅砂样品中SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、MnO、P2O5、K2O和Na2O等元素的分析方法。实验结果表明,高温熔片法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应。该方法元素曲线线性良好,相关系数都在0.99以上,方法准确度和精度优于国标GB/T 3404-1982和GB/T 7143-2010的规定要求。
查看详情 >>
使用LC测定苏丹红
通过国家标准和欧盟标准的结合,得到了稳定的苏丹红测定结果
查看详情 >>
联系岛津
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
本网站中关于产品性能、功能等信息的表述及对比范围,仅限于岛津自产和岛津合作的产品