在具有氢离子传导性的固体高分子电解质膜上接合电极触媒的电气化学设备被称为MEA（Membrane ElectrodeAssembly：膜/电极接合体），广泛应用于燃料电池、水电解氢制造技术、除湿电池等多种领域。本文使用电子探针显微分析仪EPMA，分别对MEA的未使用新品和性能劣化品进行了表征。

本文采用岛津气相色谱仪Nexis GC-2030联用脉冲氦离子化检测器(PDHID)，一次进样可以实现高纯乙烯、丙烯中H2、O2、N2、CH4、CO、CO2分析检测。实验表明上述几种物质最低检出限均优于3.1 μL/m3，即使在杂质含量约50 μL/m3的超低浓度点时，峰面积重复性依然≤1.37%，说明整套系统良好的运行稳定性，完全满足乙烯、丙烯石化行业标准的要求。

近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。