二维材料具有的简单二维结构、特有对称性等特点，使其具有独特的性能，近年来，人们对MoS2等二维材料的研究产生了较大兴趣。二维材料可应用于晶体管、传感器、电极、绝缘体等。在本报告中，使用X射线以及紫外光激发获得了二硫化钼（MoS2）价电子带的光电子能谱。利用Ar团簇离子进行谱图测定，验证了清洁前后样品谱图的差异。进行MoS2薄膜的表面分析，获取了表面性质和键合状态相关的有益信息。

随着技术日新月异的进步，已能够对小物体和微小区域进行加工。因此，对小样本和微小区域特征的测定需求也逐渐增加。在本期中，我们将介绍一种可以满足上述需求的微型样品架和微小光束聚焦透镜单元，以及它们的应用实例。

能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）可对分析目标的组分进行迅速且无损的分析。无损分析如字面含义，是指在不拆解或损伤分析对象的情况下，分析其性质的分析技术，在食品、材料、医药等很多领域均有需求。在处理贵重样品、研究文化历史样品过程中，利用X射线荧光进行无损分析就是其中典型的应用。本文使用EDX-7000型仪器，对日本国际文化研究中心提供的4份明治初期金属标本进行了构成分析，以研究当时的科技水平。虽然分析的金属标本表面腐蚀严重，还是依旧得到了其主要组分金属，均为纯度较高的金属。