高熵合金薄膜凭借其独特的成分设计和优异的力学性能，在摩擦学领域展现出巨大潜力。然而，传统表征手段难以精确解析其微观摩擦机制，制约了材料性能的进一步优化。扫描探针显微镜（SPM）作为一种强大的纳米表征工具，能够在微观尺度上实时、原位地研究材料表面的摩擦学行为，为揭示高熵金属薄膜的摩擦机制提供了新的视角。本文将利用SPM技术，研究Cu-Ni-Al薄膜在微观尺度上的微观摩擦行为，阐明其摩擦机制，为设计高性能高熵合金薄膜提供理论指导。

岛津AIMsight红外显微镜结合颗粒分析软件与高速Mapping功能，为微塑料提供了一套高效、准确、可视化的全流程解决方案：根据红外（拉曼）显微镜获得的化学图像（红外/拉曼测量结果）批量测量颗粒的尺寸、数量（个数及百分比）、面积、体积、粒径和粒径分布等定量结果并提供可视化图表直观呈现统计结果。该系统不仅满足当前国内外微塑料检测标准对成分与数量的双重要求，还可拓展至众多领域，例如环境监管领域，饮用水、空气、沉积物中微塑料例行监测；食品与药品安全领域，包装材料的微塑料迁移量评估；工业质控领域，聚合物产品中异物颗粒的来源追溯；以及科研领域种对微塑料老化、降解机制研究中的成分变化追踪。

电子元器件的失效及潜在的缺陷直接关系到电子产品的可靠性。本文使用岛津电子探针EPMA对电子元器件的铜合金部件不同位置处的肉眼可见变色异常失效进行了解析。结果显示部件表面不同的晶粒度和粗糙度以及腐蚀斑块和刮擦条痕导致局部出现明显的色差。这些局部的变色异常将会导致电子元器件出现导电不良甚至开路的失效问题。相对于常见的扫描电镜SEM+能谱仪EDS，微区分析仪器EPMA对于分析轻元素和微量元素具有更高的灵敏度，对于确认腐蚀介质和污染源能提供更准确的判断依据。