本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

本文参考2010年《中国药典》，湿法消解滑石粉矿物性中药，利用全谱型ICP-AES测定了滑石粉中的金属元素。实验结果表明：各元素的相关系数r>0.99992，加标回收率92.0%～106.4%之间，RSD小于此。32%。该方法操作简便、快速，样品前处理简单，可以满足《中国药典》对矿物性中药中重金属的测定要求。

本文使用岛津电感耦合等离子体质谱仪ICPMS-2050LF建立了测定碳酸镧中29种元素杂质含量的方法。实验结果表明，该方法标准曲线线性良好，检出限低，准确度高，重复性好，适用于碳酸镧中元素杂质含量的测定。