离型膜表面涂布的离型剂，可以有效降低离型膜的剥离力。离型膜中离型剂的涂布量，影响到离型膜的离型效果、生产成本、涂布质量等。能量色散型X射线荧光光谱仪，通过分析离型膜表面涂布的含硅离型剂中的硅的强度，计算得到含硅离型剂涂布量与硅测试强度的曲线，可用于离型膜表面离型剂涂布量的分析。该分析方法具有分析灵敏度高，分析数据稳定，分析准确度好的优点，分析过程无损快速，分析样品无需特别处理，适用于生产质量控制分析。

本文参考美国药典USP对重金属元素的限量要求，采用微波消解口服西药样品，氢化物发生电感耦合等离子体发射法（HVG-ICP-AES）测定口服药样品中砷和汞的含量。实验结果表明，砷和汞线性关系及重现性良好，定量准确，回收率在90.3%～103.7%之间，砷的检出限为0.015 μg/g，汞的检出限为0.003 μg/g。HVG-ICP-AES测定口服药中砷和汞的含量，具有灵敏度高、稳定性好等优点，完全能够满足美国药典对重金属限量值的测定要求。

铍，属于超轻元素，也是最轻的碱土金属元素。绿柱石是最常见的含Be硅酸盐矿物，是提炼铍的重要的矿物原料，同时也是重要的宝石矿物，其测试一直是电子探针微束分析领域的一大难点。本文利用岛津EPMA-1720对含Be矿物绿柱石进行微区化学成分分析。岛津EPMA具有52.5°高X射线取出角、针对超轻元素Be和O元素分析的超大晶面间距的分光晶体、兼具高灵敏度和高分辨率的4英寸约翰逊型全聚焦分光晶体等技术特点，使得对绿柱石的分析，获得了比较满意的结果。