本文参考GB/T 14849.4-2014《工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》，采用湿法消解工业硅粉样品，利用岛津电感耦合等离子体发射光谱仪ICPE-9820测定了样品中杂质元素的含量。分析结果表明，各元素的方法检出限为0.004 mg/kg ~ 6 mg/kg；仪器精密度优良，RSD值小于1.30%（n=6）；样品加标回收率为96.0%~110%。该方法灵敏度高，精密度优良，适用于工业硅粉中杂质元素含量的测定。

颗粒的粒度粒形是决定物料性能的重要参数之一，食品、医药、化工和电池等众多行业对颗粒的粒度粒形都有严格要求。有效地测量与控制颗粒粒度及其分布，对提高产品质量、降低能源消耗、控制环境污染、保护人类的健康等具有重要意义。激光粒度分析仪，是指以激光作为探测光源的粒度分析仪器，通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小，已成为当今最流行的粒度测量仪器之一。

本文建立了一种使用岛津超高效液相色谱和三重四极杆质谱联用技术快速测定水样中NDMA的方法。该方法可在6 min内实现水中低浓度水平NDMA的快速测定。本文中对NDMA的线性关系、重复性、检出限和定量限值以及基质加标回收率进行了考察验证。结果表明：NDMA的线性关系良好，相关系数为0.9997，准确度为92.1%~104.1%。仪器的重复性良好，不同浓度水平溶液的保留时间和峰面积的相对标准偏差分别在0.19%和2.65%以下。对空白水样的加标回收率在67.4%~82.9%之间，符合行业实际水体样品测试情况。根据HJ168-2010标准规定获得NDMA的仪器定量限为0.68 μg/L，远低于