本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

铟（In）在高科技领域中应用非常广泛，是重要的战略性资源。铟通常赋存于富锡矿床中，贫锡矿床中鲜有报道。中南大学团队在华南七宝山铜锌铅矿床中发现了一处富铟贫锡矽卡岩矿产资源，为贫锡环境中铟的成矿作用研究提供了一个范例。测试结果表明，铟在闪锌矿-黄铁矿中最为丰富，含量最高可达0.1%，铟主要赋存于闪锌矿中，铟与锌存在强相关性，但与锡的相关性较弱。矿物共生关系表明，七宝山矿床中闪锌矿形成于晚石英硫化物成矿阶段，而富铟矿体是由贫锡火成岩侵入体浅部侵位所形成。

本文利用岛津GC-2010 Pro气相色谱仪搭配FPD检测器，参考现行标准NY/T 761-2008 《蔬菜和水果中有机磷、有机氯、拟除虫菊酯和氨基甲酸酯类农药多残留的测定》，建立了蔬菜和水果中毒死蜱残留量的检测方法。实验结果显示：20~500 ng/mL浓度范围，毒死蜱线性关系良好，相关系数R为0.9997。取浓度为20ng/mL的毒死蜱标准溶液，重复进样6次，峰面积的RSD%小于3%，仪器精密度良好。加标回收率实验中，毒死蜱的平均加标回收率在98.0-102.0%之间。该方法简单方便，能够有效的检测蔬菜和水果中毒死蜱的含量。