本文介绍了采用X射线荧光光谱法测定以TiO2为主要基体的金红石等矿物的分析方法。以氧化钛为主体配以其他矿物标样，采用玻璃熔片法，合成配制出一系列标准样品，制作多元素工作曲线。玻璃熔片法消除和减小了矿物结构、样品粒度等对分析结果的影响，可以采用配制标样的方法获得系列标准样品，方法不受实物标准样品限制，并且可用于分析元素含量在工作曲线范围内的不同类别的矿物。