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X射线荧光光谱法测定金红石中多元素
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X射线荧光光谱法测定金红石中多元素
2021.06.18
类型: 应用报告
浏览:159
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本文介绍了采用X射线荧光光谱法测定以TiO2为主要基体的金红石等矿物的分析方法。以氧化钛为主体配以其他矿物标样,采用玻璃熔片法,合成配制出一系列标准样品,制作多元素工作曲线。玻璃熔片法消除和减小了矿物结构、样品粒度等对分析结果的影响,可以采用配制标样的方法获得系列标准样品,方法不受实物标准样品限制,并且可用于分析元素含量在工作曲线范围内的不同类别的矿物。
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