本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

本文利用岛津GCMS-QP2050气质联用仪，建立了硝苯地平药物中6种遗传毒性杂质含量测定方法。在0.02 ~0.2 μg/mL浓度范围内，各组分标准曲线相关系数均大于0.999，线性关系良好，0.05 µg/mL标准品溶液连续进样6针，各组分峰面积RSD均小于4%。对样品基质进行了低、中、高三水平的加标回收实验，回收率在95.85-117.64%之间。该方法操作简单，可用于硝苯地平中六种遗传毒性杂质质量控制。

我国是一个具有悠久历史的文明古国，在人类发展的历史长河中，先民们留下了无数历史遗迹和遗物。这些珍贵的文物真实地反映了当时的政治、经济、科技、文化艺术的发展状况，为文物科学研究提供了丰富生动的实物资料。文物的发掘、鉴定、保护，是文物工作者的历史责任。我国政府对文物保护工作十分重视，成立了多个国家文物局文物保护重点科研基地，大量的考古研究院（所）和博物院（馆）相继成立了文物保护技术部或文物保管部。文物保护技术实验室是文物工作者应用现代仪器的手段，研究文物的组成、结构、理化性质、环境影响、腐蚀机理等的基地，为科学的确定文物保护措施与修复方法提供可靠的依据。