首页 / 行业应用 / 新能源/汽车 / X射线荧光光谱法测定硅石中杂质元素
X射线荧光光谱法测定硅石中杂质元素
2021.10.27类型: 应用报告浏览:20
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片制样方法,测定了硅石中主要杂质元素。结果表明,Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好,相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下,满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。
相关推荐
联系岛津
产品询价 电话咨询 授权代理商 在线客服
本网站中关于产品性能、功能等信息的表述及对比范围,仅限于岛津自产和岛津合作的产品
订阅最新资讯
关注我们
扫描关注,获取最新资讯
岛津中国
医疗器械