中国
分析检测仪器
关于岛津
联系我们
全球岛津
首页
产品/业务
行业应用
资源中心
资源中心
超级资源检索库
视频中心
应用问答
资料包下载
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
产品询价
中国
分析检测仪器
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
首页
/
行业应用
/
医药
/
自动化原位UPS-XPS团簇刻蚀分析OLED薄膜材料
返回列表
自动化原位UPS-XPS团簇刻蚀分析OLED薄膜材料
2020.07.08
类型: 应用报告
浏览:500
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
原位分析的重要性不言而喻,可以避免仪器操作或样品处理等过程带来的不确定性。通过岛津AXIS Supra+原位UPS-XPS团簇深度剖析技术对OLED薄膜材料进行了研究,得到了材料的表面组成、功函数、HOMO能带等信息,相关信息可进一步用于材料能带结构等的研究。
预览文章
下载文章
相关推荐
LC-MS/MS检测清热解毒口服液中三氯蔗糖
本文建立了使用三重四极杆液质联用仪定量测定清热解毒口服液中三氯蔗糖的方法。三氯蔗糖在5 μg/L~1000 μg/L浓度范围内线性良好,其相关系数r在0.999以上。在高、中、低三个浓度下,化合物的保留时间和峰面积的RSD%分别在0.05%~0.18%和0.46%~2.48%之间,仪器精密度良好。加标量为0.001~0.005 g/kg的样品回收率在83.6% ~ 101.6%之间。该方法灵敏度高,分析时间短,结果准确,可用于清热解毒口服液成方制剂中三氯蔗糖的准确定量检测。
查看详情 >>
MXF-N3 Plus玻璃熔片法测试硅石中化学成分
硅石样品和特定混合溶剂按合适比例混匀,加入合适脱模剂置于铂黄坩埚中,在高温熔融炉中熔融制成玻璃熔片,用X射线荧光光谱法(MXF-N3 Plus)测试硅石样品化学成分SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、MnO、P2O5、K2O、Na2O等元素,实验结果表明,该方法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应对分析结果的影响,利用有含量梯度的硅石标样建立标准工作曲线,元素曲线线性良好,相关系数都在0.998以上,该分析方法的准确度和分析精度优于国标GB/T 3404-82和GB/T 7143-2010之规定要求。
查看详情 >>
XRF玻璃熔片法测试特殊陶瓷中SrZrZn元素
陶瓷主要是由粘性较高的高岭土、黏土、石英和长石等混合高温烧成而成,通过调整3者比例,可得到不同的抗电性能、耐热性能和机械性能的陶瓷。陶瓷成分组成复杂,有时加入如Sr Zr Zn等稀有元素来改变其性能,以达到SZP陶瓷的特殊用途;传统化学分析方法需要复杂的样品前处理,操作比较麻烦,性质接近的特殊元素的相互干扰无法掩蔽,而利用XRF荧光玻璃熔片法分析,样品处理简单方便,既可以消除矿物效应、粒度效应对结果的影响,又可以通过修正排除元素之间的干扰,提高了分析精度和准确度。本文使用岛津XRF-1800 波长色散X射线荧光光谱仪,建立了特殊陶瓷的分析方法,同时验证了方法的准确度和精密度。
查看详情 >>
联系岛津
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
本网站中关于产品性能、功能等信息的表述及对比范围,仅限于岛津自产和岛津合作的产品