本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6010微焦点X射线检查装置对整流二极管的实例观察。针对整流二极管透视，可观察正负极及PN结，并发现有燃烧痕迹，并使用不同颜色渲染。再使用CT扫描整流二极管，能够清晰观察出内部焊接气泡和负极与PN结连接处有裂纹。

陶瓷主要是由粘性较高的高岭土、黏土、石英和长石等混合高温烧成而成，通过调整3者比例，可得到不同的抗电性能、耐热性能和机械性能的陶瓷。陶瓷成分组成复杂，有时加入如Sr Zr Zn等稀有元素来改变其性能，以达到SZP陶瓷的特殊用途；传统化学分析方法需要复杂的样品前处理，操作比较麻烦，性质接近的特殊元素的相互干扰无法掩蔽，而利用XRF荧光玻璃熔片法分析，样品处理简单方便，既可以消除矿物效应、粒度效应对结果的影响，又可以通过修正排除元素之间的干扰，提高了分析精度和准确度。本文使用岛津XRF-1800 波长色散X射线荧光光谱仪，建立了特殊陶瓷的分析方法，同时验证了方法的准确度和精密度。

为了各种目的，如防止变质，掩盖不愉快的味道或气味，或控制药物释放的时间等等，有些药品片剂表面有一层涂层。图1显示了药片涂层的示例。虽然电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)和电感耦合等离子体-质谱法(ICP-MS)通常用于分析药品中的元素，但如果整个片剂被粉碎或溶解，就很难区分是来自于涂层的元素还是其他。x射线荧光使片剂在不粉碎的情况下分析成为可能。本文通过对粉状和非粉状片剂的分析比较，介绍了一种简单分析涂料中不均匀分布的方法。