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紫外可见分光光度计测试二氧化钛材料禁带宽度
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紫外可见分光光度计测试二氧化钛材料禁带宽度
2017.08.29
类型: 应用报告
浏览:486
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禁带宽度是半导体的一个重要特征参量,它直接影响半导体器件耐压和最高工作温度。本文使用岛津紫外可见分光光度计和积分球附件测试了二氧化钛(TiO2,锐钛矿)吸收光谱图,得到截止波长,根据公式计算得到该材料的禁带宽度。
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