碳化硅陶瓷是一种重要的功能陶瓷材料，具有优异的高温力学强度、高硬度、高弹性模量、高耐磨性、高导热性、耐腐蚀性等性能。本文使用岛津XRD-7000衍射仪测试了两种市售的SiC陶瓷粉末，对得到的衍射谱图进行了物相解析，两个样品的主物相均为α-SiC-6H，其中样品SiC-1#还含有游离Si和α-SiC-15R相。通过Rietveld精修获得了晶粒尺寸。物相组成和晶粒尺寸严重影响烧结后碳化硅陶瓷材料的机械性能，这些信息对于优化碳化硅陶瓷材料的生产工艺和产品质量监控有着重要意义。

能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）可对分析目标的组分进行迅速且无损的分析。无损分析如字面含义，是指在不拆解或损伤分析对象的情况下，分析其性质的分析技术，在食品、材料、医药等很多领域均有需求。在处理贵重样品、研究文化历史样品过程中，利用X射线荧光进行无损分析就是其中典型的应用。本文使用EDX-7000型仪器，对日本国际文化研究中心提供的4份明治初期金属标本进行了构成分析，以研究当时的科技水平。虽然分析的金属标本表面腐蚀严重，还是依旧得到了其主要组分金属，均为纯度较高的金属。

本文参考了《GB/T 21913-2008 食品中滑石粉的测定》国家标准，使用岛津最新型号AA-6880原子吸收分光光度计，应用火焰原子吸收法测定了面粉中的滑石粉的含量。该方针对性强，定量准确，完全能满足面粉中滑石粉含量的测定要求。