层析是化合物剖析中常用到的一种分离技术，而红外光谱分析被广泛应用在化合物剖析分析中。本文介绍了使用红外光谱仪和单次衰减全反射附件，快速测定层析馏分的红外光谱图。

本文参考GB/T 14849.4-2014《工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》，采用湿法消解工业硅粉样品，利用岛津电感耦合等离子体发射光谱仪ICPE-9820测定了样品中杂质元素的含量。分析结果表明，各元素的方法检出限为0.004 mg/kg ~ 6 mg/kg；仪器精密度优良，RSD值小于1.30%（n=6）；样品加标回收率为96.0%~110%。该方法灵敏度高，精密度优良，适用于工业硅粉中杂质元素含量的测定。

本文利用岛津超高效液相色谱-四极杆飞行时间串联质谱仪，建立了古代纺织物中16种染料成分的鉴别和确认方法。使用LabSolutions insight 建立了16种染料成分的高分辨二级质谱库，根据精确质量数进行鉴别，并使用二级质谱库及典型二级碎片离子丰度比进行确认。通过一针进样，同时完成目标物的定性筛查，可快速确认古代纺织物中可能含有的染料类别。