X射线光电子能谱（XPS）分析结合平行成像技术可以有效对材料表面缺陷处进行微区分析，本文选取了半导体材料的“金手指”及缺陷区域进行测量，获得了较理想的测试效果。

本应用建立了大枣中环磷酸腺苷含量测定的方法。在优化后的色谱及质谱条件下，采用负离子模式扫描，通过多反应监测(MRM)模式对目标化合物进行测定。结果表明：环磷酸腺苷在1~200 ng/mL浓度范围内线性良好，所得校准曲线相关系数在0.9999以上，各校准点准确度在98.15~101.55%之间，保留时间和峰面积的相对标准偏差分别在0.14% ~ 0.29%和0.71% ~ 2.75%之间，加标回收率在85.08~101.77%之间。

本文参考欧盟标准《EN71-3：2013-2014 玩具安全第三部分：特定元素的迁移》的附录F和《GB/T 34435-2017 玩具材料中可迁移六价铬的测定 高效液相色谱-电感耦合等离子体质谱法》，建立了使用岛津高效液相色谱LC-20Ai和电感耦合等离子体质谱ICPMS-2030联用分离测定玩具材料中可迁移三价铬(CrⅢ)和六价铬(CrⅥ)含量的方法。该方法测定三价铬和六价铬的方法检出限分别为0.028 mg/kg和0.025 mg/kg，可满足玩具材料中不同形态铬含量的同时分析需求。