交通卡等常见的非接触式IC卡没有端子，其中的结构全部为塑料覆盖，具有优异的耐候性和耐磨性，可放入包内或保护套内直接使用，具有良好的便利性，也作为电子货币广泛使用。非接触式IC卡内含控制数据通信的IC和用于收发电磁波的环形天线。划过卡片专用读写器后，利用电磁感应从环形天线向IC供电，并使其工作。若IC的环形天线或金属接线损坏或接触不良，则该卡将无法正常工作。因此，评估材料的可靠性并研讨制造工艺非常重要。本文将介绍使用电子探针显微分析仪EPMA（EPMA-8050G）对非接触式IC卡的截面以及IC芯片的布线图进行面分析的案例。

在食品制造厂、化学品制造厂、第三方检测等单位中，对异物进行分析的需求日益增加。伴随着上述需求的扩大，人们对适合金属等无机物分析的能量色散型荧光X 射线分析装置（EDX）和擅长有机物分析的傅立叶红外分光光度计（FTIR）的关注度逐渐提高，利用两台设备对同一个样品进行分析的情况增加。但是，除了设备给出的数据外，结果判定还会受到分析人员的知识和经验的影响。于是，我们开发了对EDX 和FTIR 测定数据进行综合分析的业内首款“EDX-FTIR 综合分析软件EDXIR-Analysis”。本软件的详情刊载于Application News No.A522A1) 以及A5272)

参考GB/T 35996-2018《磷矿石和磷精矿中八种元素含量的快速测定 X射线荧光光谱法》，将磷矿石粉碎后熔融制成玻璃熔片，使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-2400 建立磷矿石中的元素校准曲线，分析磷矿中的P2O5、MgO、CaO、SiO2、Al2O3、Fe2O3含量。实验结果表明，校准曲线线性良好，方法稳定性和精密度良好。