为了增加光学元件的通光量，通常会在其表面镀上一层或多层折射率较低的薄膜，以消除元件表面的反射光，所镀的膜叫增透膜或减反膜。该类光学元件要求具有很低的反射率，对于测量仪器的测量精度要求非常高。本文使用UV3600对该类样品进行测试，实验结果表明，使用岛津UV3600可以快速有效测定该类样品的超低反射率，并且可以获得满意的实验结果。

陶瓷主要是由粘性较高的高岭土、黏土、石英和长石等混合高温烧成而成，通过调整3者比例，可得到不同的抗电性能、耐热性能和机械性能的陶瓷。陶瓷成分组成复杂，有时加入如Sr Zr Zn等稀有元素来改变其性能，以达到SZP陶瓷的特殊用途；传统化学分析方法需要复杂的样品前处理，操作比较麻烦，性质接近的特殊元素的相互干扰无法掩蔽，而利用XRF荧光玻璃熔片法分析，样品处理简单方便，既可以消除矿物效应、粒度效应对结果的影响，又可以通过修正排除元素之间的干扰，提高了分析精度和准确度。本文使用岛津XRF-1800 波长色散X射线荧光光谱仪，建立了特殊陶瓷的分析方法，同时验证了方法的准确度和精密度。

本文参考2025年版《中国药典》公示稿，采用岛津三重四极杆气质联用仪GCMS-TQ8040 NX建立了中药材金银花中50个禁用农药残留物的检测方法。在0.5~20 µg/L（以氯唑磷计）浓度范围内建立基质内标曲线，50个禁用农药残留物线性相关系数r均大于0.998，线性关系良好，取各化合物浓度0.5~5 μg/L混合标液连续分析5次，50个农药残留物峰面积RSD均小于5.0%。加标回收率实验中，回收率满足《中国药典》2025年公示稿的要求。该方法适用于《中国药典》2025年公示稿规定的药材及饮片（植物类）中禁用农药残留量的测定。