本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察车载R5F芯片内部结构。先用透视功能观察绑定线鱼尾区域，再使用CT三维观察绑定线形态和鱼尾焊接状态。最后使用HADI-S软件分析芯片焊接中的气泡面积比率。

本文使用岛津HIC-ESP离子色谱仪建立了离子色谱法测定固体废弃物中F-、Cl-、NO2-、Br-、NO3-、PO43-、SO32-、SO42- 7种水溶性阴离子的分析方法。本方法采用碳酸钠洗脱体系，使用岛津阴离子交换色谱柱Shim-pack IC-SA2以及新款阴离子膜抑制器ICDS-40A，以电导检测器进行检测。以外标法定量，7种阴离子在各自浓度范围内标准曲线的线性相关系数R均高于0.999，准确度在92.0-116.4%之间。对0.5 mg/L和5 mg/L的混合标准溶液进行连续分析，重复性结果（RSD%表示）：七种阴离子在以上浓度下的保留时间RSD为0.03%-0.08%，峰面积的RS