当前，元素形态分析的重要意义已经日益受到分析工作者和健康民众的共同关注。元素的不同形态具有不同的物理化学性质和生物活性。例如无机砷的毒性很大，有机砷的毒性较小或者基本没有毒性，形态分析已成为分析科学领域的一个重要分支。HPLC是一种具有高效的分离技术，把HPLC与具有极低的检测限、宽的动态线性范围、分析精密度高、速度快和可测定多元素等优点的ICP-MS联用，可用于研究食品、环境、中草药、海洋类动植物、玩具、人类生物样品中As、Hg和Cr等元素的形态分析。目前，形态分析已成为分析科学领域的一个重要分支。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

本文采用超声提取方式，结合岛津最新型号的气质联用仪GCMS-QP2050，建立了光学TAC薄膜样品中9种增塑剂含量的检测方法。在0.2~5 mg/L浓度范围内，各化合物线性良好；混合标准溶液连续6次进样，峰面积RSD值均小于5%，重复性良好；样品加标测试，回收率达到80%~120%。方法满足实验室对薄膜样品中增塑剂含量测定的要求。本文数据处理部分还采用了岛津PeakintelligenceTM智能积分软件，提高积分准确性。