近年来，减少汽车内饰中有机化合物使用的措施不断推进，针对汽车内饰材料释放的挥发性有机化合物（VOCs）和半挥发性有机化合物（SVOCs）分析的标准-ISO 12219-11正在制定中。ISO 12219-11的分析流程包括：将汽车内饰材料样品填充至热脱附（TD）玻璃管中，通过TD加热后，将样品释放的VOCs（至C25）和SVOCs（C14至C32）导入GC-MS系统进行分析。尽管这一标准化流程能简单快速地分析材料释放的VOC/SVOC，但导入高沸点化合物导致的MS系统污染仍是难题。 GCMS-QP2050配备了新型抗污染离子光学系统，可有效抑制MS污染。其全新接口设计即使对易吸附化合物也能实现

随着技术日新月异的进步，已能够对小物体和微小区域进行加工。因此，对小样本和微小区域特征的测定需求也逐渐增加。在本期中，我们将介绍一种可以满足上述需求的微型样品架和微小光束聚焦透镜单元，以及它们的应用实例。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。