岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。EPMA可用于研究此类成岩矿物的确切化学组成和元素的二维分布。在这里，使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对云仙火山熔岩中的斜长石进行了元素面分析。结果显示，可以在斜长石边缘发现微细的结构。这些切片样品由东京大学研究院理学研究科-地球与行星科学系的理学院技术部技术长吉田英人先生提供。

本文介绍了台式X射线CT系统XSeeker 8000虽然体积小，但可以从金属制品到树脂制品、电子产品等各种产品的内部结构进行三维无损观察和分析。另外，设定项目也少，拍摄简单，即使是新手也可以轻松使用。

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