离型膜表面涂布的离型剂，可以有效降低离型膜的剥离力。离型膜中离型剂的涂布量，影响到离型膜的离型效果、生产成本、涂布质量等。能量色散型X射线荧光光谱仪，通过分析离型膜表面涂布的含硅离型剂中的硅的强度，计算得到含硅离型剂涂布量与硅测试强度的曲线，可用于离型膜表面离型剂涂布量的分析。该分析方法具有分析灵敏度高，分析数据稳定，分析准确度好的优点，分析过程无损快速，分析样品无需特别处理，适用于生产质量控制分析。

六方结构的石墨作为负极材料中的活性物质，在锂离子电池中有着广泛的应用。石墨为六方层状结构，在极片制备过程中，容易产生择优取向，而取向程度会直接影响锂离子的扩散速率及极片的振实密度。石墨层状结构的取向比（OI）可通过石墨（004）衍射峰与（110）衍射峰的强度比进行快速表征。本文使用岛津XRD对某石墨极片进行了测试，并采用峰强度比I(004)/I(110)计算得到该石墨极片样品取向比OI为2.36，测试结果可为石墨负极极片工艺控制及优化提供科学可靠的指导。

本文使用岛津超高效液相色谱仪，建立了化妆品中三种非法添加剂含量测定的方法。本方法采用C18色谱柱，磷酸氢二钠/甲醇=40/60 (v/v)为流动相进行梯度洗脱，二极管阵列检测器检测。三种添加剂在5-100 μg/mL的浓度范围内具有良好的线性，相关系数均在0.9994以上。对不同浓度的标准溶液进行精密度实验，连续6次进样保留时间和峰面积的相对标准偏差分别在0.095%和1.37%以下，表明仪器精密度良好，方法检出限在0.004-0.11 mg/kg之间，定量限在0.014-0.37 mg/kg之间。实际样品添加不同浓度，回收率为86.1%-108.3%，结果表明方法准确可靠。