岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。EPMA可用于研究此类成岩矿物的确切化学组成和元素的二维分布。在这里，使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对云仙火山熔岩中的斜长石进行了元素面分析。结果显示，可以在斜长石边缘发现微细的结构。这些切片样品由东京大学研究院理学研究科-地球与行星科学系的理学院技术部技术长吉田英人先生提供。

矿物中变价元素的含量，往往能够反映其形成的地质条件，具有标志性意义，一直是地质学家们比较关注的问题。但以往电子探针对于这方面的测试却存在着不少的问题。本文充分利用岛津电子探针在硬件上的优势，采用全元素测试，包括超轻元素氧在内的测试思路对磁铁矿进行了测试，并根据电价平衡原则计算出变价元素的含量，得到了较为理想的测试结果。

微焦X射线检查装置可以在短时间内无损观察无线耳机中配d备的锂离子电池、扬声器、封装电路板等。透视成像加上CT成像，可以对检查对象的形状和位置等进行详细检查。X射线检查装置今后有望应用于制造业的产品质量等的各种场合。