近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

使用岛津能量色散型X射线荧光光谱仪(EDX)对绿松石中的钾钙比进行了测试,结合显微镜下的观察,可显著提高异常绿松石的检出效率。

建立了岛津GC×GC-qMS定性筛查环境水中有机污染物的分析方法，并对某环境水样及其加标进行了分析，得到了其GC×GC二维轮廓图。分析结果表明，GC×GC-qMS具有高峰容量、高灵敏度、高分辨率等特点，能够将环境体系中的痕量有机污染物与基质分离。