学工业是基础工业之一，在国民经济生活中具有很重要的地位，经济的快速发展带动了化学工业的发展壮大。化学工业生产过程可能同时产生大量的化工废弃物，这些化工废弃物如处理不当就可能对环境产生危害。环境关系到国计民生，在国家出台的环境法规中，对废弃物的管理越来越严格，并逐渐开始规范废弃物的处理方法与途径。岛津EDX系列能量色散型X射线荧光光谱仪，可以快速无损分析出样品的组成成分，为化工废弃物的筛选分类和规范处理提供科学的依据。

本文参考美国药典《USP232》对原料药品中无机杂质元素的限量要求及《USP233》对杂质元素的测定方法，采用有机溶剂二甲基亚砜（DMSO）直接溶解原料药，利用全谱型电感耦合等离子体光谱 (ICP-AES)测定了原料药品中的重金属元素和其它无机杂质元素的含量。实验结果表明各元素的相关系数 r＞0.9999，加标回收率在86.6%～104.0%之间，RSD小于2.85%。该方法前处理操作简单，无需酸消解，可快速测定原料药品中的无机杂质元素。

XPS（X射线光电子能谱：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了可以对物质表面约10 nm处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析化学键合状态。该方法在催化剂研究领域，广泛应用于分析催化剂中所含元素的状态。特别地，分析由于热处理和气体反应引起的元素化学键合状态的变化在阐明催化反应机理方面起着很大的作用。在催化剂反应之后将样品取出到大气中并转移到分析装置中时，由于会与大气反应，样品的表面状态可能会发生变化。如果在转移过程中表面化学状态发生变化，则无法在反应后立即观察到表面状态。为了防止样品在转移过程中与大气发生反应，可以选择使用空气敏感样