本文将自制的铁矿石控制样品用粉末压片法制样，使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度，建立TFe元素校准曲线，实现对铁矿石中铁元素的X射线荧光光谱分析。此法分析铁矿石样品，荧光分析值与化学值对比能够达到±0.30以内，满足矿山开采过程中快速分析的需求。