近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

国标GB/T30984.1-2015《太阳能用玻璃第1部分:超白压花玻璃》要求光伏玻璃中三氧化二铁含量应该不高于0.015% 。依照国标GB/T40915-2021《X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量》方法，将光伏玻璃处理后熔融制成玻璃熔片，使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立元素工作条件，可同时分析光伏玻璃中的低含量氧化铁及主次成分。实验结果表明，分析结果的准确度及重复性好。该方法操作简单，能够很好地消除基体效应、粒度效应及矿物效应，提高了分析结果的准确度。

本文建立了一种使用岛津超高效液相色谱仪LC-30A和三重四极杆质谱仪LCMS-8045联用测定牛奶中玉米赤霉烯酮残留量的方法。结果表明：该方法在5 min内完成对玉米赤霉烯酮的检测。玉米赤霉烯酮在0.5 μg/L~200 μg/L浓度范围内线性良好，校准曲线线性相关系数r在0.999以上，且精密度和回收率实验结果良好。该方法灵敏度高，分析时间短，结果准确，且无需衍生操作，可用于牛奶中玉米赤霉烯酮的快速检测。