X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

“民以食为天”，食品安全问题关系着国计民生。随着物质生活的提高，人们对于食品的口感，营养性和安全性提出了更高的要求。大自然中生物的种类繁多，不胜枚举，因此制作食品的原料品种也是琳琅满目。目前，由于受经济利益驱使，市场上以不同品种的原料来进行食品掺假掺杂，欺瞒的现象层出不穷，手段不断变化，如假羊肉，掺假食用油，假冒品牌大米等，这严重损害了公众的利益和对于食品安全的信心，如果是长期食用，可能会对人们的健康，尤其是婴儿青少年的生长发育造成负面影响。此外，转基因作物在抗虫，抗病，高产等方面取得了令人瞩目的成果，然而转基因食品的安全性也一直处于争论中。因此，考虑到消费者可能心存顾

紫外-可见分光光度计可用于溶液中分析物的定量分析，或光学组件评估。在对溶液中的分析物进行定量分析时，紫外-可见分光光度计测量的是吸光度，因为吸光度与分析物浓度成比例变化。然而，当吸光度大于2 Abs时，由于杂散光（用于分析的波长以外的光）的影响，大多数紫外-可见分光光度计无法保持分析物浓度与吸光度之间的线性关系。这可以通过稀释样品来解决，即将分析物浓度降低到仪器能够测量的水平。（对于固体样品，则将其切成薄片。） 然而，UV-2700i Plus紫外-可见分光光度计配有两个用于衍射光的低杂散光衍射光栅（双单色器），使其能够测量高达8 Abs的吸光度。*这种宽动态范围使其适用于对不易稀释的样品进行