近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

电子探针作为一种无损检测技术，可用于文物的精确成分分析和元素分布分析。本文利用岛津电子探针显微分析仪对洛阳出土的王作鼎残片进行了微区定性、定量及元素面分析，结果表明样品材质为青铜合金，元素面分析结果显示Pb元素具有偏析现象。测试结果可为王作鼎保护修复方案的制定与实施提供科学依据。

本文建立了使用岛津GC+BID-2010 Plus检测器测定香烟中香草醛的方法。在0.1~10 mg/L浓度范围内，待测组分的相关系数大于0.999。对0.5mg/L的标准溶液连续6针进样，峰面积的RSD%小于5%。在0.25mg/kg加标浓度下，回收率为116.23%，完全满足日常对香烟烟丝中香草醛添加剂分析检测的要求。