本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

开发了新型在线自动稀释脱盐LC-MS前处理系统，该系统采用了柱切换技术，可以使用普通的液相色谱条件来进行LC-MS的分析，包括缓冲盐的使用。自动稀释系统可以提高目标化合物的捕集效率，并且可以自动进行脱盐。该系统可以完全由计算机来进行控制，是药物和天然产物中未知样鉴定的有效系统。

建立了多维气相色谱质谱法检测复杂基质样品（葱、蒜）中有机磷农药。通过采用多维气相色谱质谱联用技术，有效解决了传统检测方法背景干扰较大，难以准确定性、定量的问题。样品经乙酸乙酯提取，ENVI-CARB小柱净化后，用MDGC/GCMS分离和检测。有机磷农药在0.01~0.5mg/L浓度范围内标准曲线线性良好，相关系数均在0.998以上，样品加标回收率在68~120%之间，对基质加标样品连续5次进样，峰面积RSD值均小于7.0%，精密度良好。