建立了使用顶空进样气相色谱法测定食品软包装材料中的15中常用溶剂。

参考标准YS/T 892-2024《高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》，采用硝酸-氢氟酸分解试样后，使用ICPMS-2050LF电感耦合等离子体质谱仪直接测定，建立了一种简单快速测定高纯钛中14种痕量杂质元素含量的分析方法。 研究过程中使用耐氢氟酸进样系统和铂锥结合，在低氩气消耗条件下获得准确的定量分析结果； 同时使用气体在线稀释系统和快速分析功能，降低了锥的维护频率。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。