X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

本文参照国家药品监督管理局2021年第47号通告《根痛平片中松香酸检查项补充检验方法》（BJY 202101），使用高效液相色谱仪对根痛平片中松香酸进行测定。实验结果表明，对照品的理论塔板数17,003，大于2000，系统适应性满足检测要求；样品中松香酸的检出限为0.05 μg/mL（0.005%），定量限为0.15 μg/mL（0.015%），可满足检测要求。

本文采用岛津Nexera LC-40高效液相色谱仪，建立了双氯芬酸钠肠溶片有关物质测定方法。对于未知杂质，用双氯芬酸钠替代考察未知杂质。该方法中采用了自动进样器Co-injection功能，相较传统的直接进样（标准模式）可以获得更高的柱效及分离度；系统适用性试验，空白溶剂对双氯芬酸钠杂质测定干扰情况及分离度溶液测试结果均满足药典要求。双氯芬酸钠在0.10~10.0 µg/mL线性范围内线性良好，相关系数为0.9996。双氯芬酸钠的检测限及定量限分别为0.015 µg/mL和0.051 µg/mL。精密度实验中，双氯芬酸钠的保留时间相对标准偏差为0.040~0